Для поиска информации или документа воспользуйтесь поиском |
|||
Например: с1-55 |
Госреестр: Описания типа СИ
- Источники оптического излучения
- Частотомеры электронно-счетные
- Осциллографы Fluke
- Осциллографы Good Will
- Осциллографы С1
40981-09: Morgagni, Tecnai G2, Titan 80-300 - Микроскопы электронные просвечивающие
Микроскопы электронные просвечивающие Morgagni, Tecnai G2, Titan 80-300
ПрименениеДля измерения линейных размеров объектов, наблюдаемых на изображении и анализа микроструктуры объектов. Области применения: биология, физика твердого тела, материаловедение, геология и другие отрасли науки и техники.
|
22102-01: Morgagni, Tecnai 12, Tecnai 20, Tecnai 30 - Микроскопы электронные просвечивающие
Микроскопы электронные просвечивающие Morgagni, Tecnai 12, Tecnai 20, Tecnai 30
ПрименениеДля измерения линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении и анализа микроструктуры объектов в биологии, физике твердого тела, материаловедении, геологии и других отраслях науки и техники.
|
15685-96: CM, EM208 - Микроскопы электронные просвечивающие
Микроскопы электронные просвечивающие CM, EM208
ПрименениеДля исследования микроструктуры объектов в условиях заводских лабораторий и научно-исследовательских институтов металлургической, химической, полупроводниковой и других отраслях промышленности.
|
536-50: МИС-11 - Микроскопы двойные для измерения неровностей микропрофиля
Микроскопы двойные для измерения неровностей микропрофиля МИС-11
|
10653-86: DC - Микроскопы большие инструментальные
Микроскопы большие инструментальные DC
|
563-72: БМИ-1 - Микроскопы большие инструментальные
Микроскопы большие инструментальные БМИ-1
|
1363-60: БМИ-1 - Микроскопы большие инструментальные
Микроскопы большие инструментальные БМИ-1
|
563-50: БМИ - Микроскопы
Микроскопы БМИ
|
25542-03: VIDEOMET-III - Микроскоп
Микроскоп VIDEOMET-III
ПрименениеДля прецизионного измерения ширины и глубины штрихов, наносимых на специальных пластиковых карточках на Пермской печатной фабрике Гознака.
|
35809-07: - Микроскоп с измерительной насадкой
Микроскоп с измерительной насадкой
ПрименениеДля измерений диаметров отверстий и шага между их осями микроканальных пластин, а также размеров мер малой длины в микроэлектронике и других отраслях промышленности.
|
41600-09: Motic B1-223ASC - Микроскоп оптический
Микроскоп оптический Motic B1-223ASC
ПрименениеДля измерения количества и размеров частиц в суспензиях на основе минеральных или синтетических масел в соответствии с ГОСТ ИСО 4407-2006 "Определение загрязненности жидкости методом счета частиц под микроскопом". Область применения: контроль промышленной чистоты жидкостей, применяемых при изготовлении, эксплуатации и ремонте машин и приборов (рабочих жидкостей гидравлических систем привода и управления машин, приводов инструментов), технологических процессов и качества продукции в соответствии с ГОСТ 17216-2001 "Чистота промышленная. Классы чистоты жидкостей". |
25448-03: TM-500 - Микроскоп измерительный
Микроскоп измерительный TM-500
ПрименениеДля прецизионного измерения наружных и внутренних линейных размеров и диаметров изделий в продольном и поперечном направлениях до 50 мм.
|
41096-09: ML-7000 - Микроскоп измерительный металлургический
Микроскоп измерительный металлургический ML-7000
ПрименениеДля прецизионного измерения наружных и внутренних линейных размеров и диаметров изделий до 25 мм. Область применения: предприятие ОАО "Сибнефть-ОНПЗ".
|
35858-07: Leica DM IRM - Микроскоп исследовательский для тестирования материалов
Микроскоп исследовательский для тестирования материалов Leica DM IRM
ПрименениеДля измерения расстояний, размеров гранул и других деталей структуры, наблюдаемых на изображении при анализе микроструктуры металлов и других материалов.
|
44570-10: OLYMPUS GX71F - Микроскоп инвертированный оптический
Микроскоп инвертированный оптический OLYMPUS GX71F
ПрименениеДля измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.
|
44713-10: МИА-1 - Микроскоп интерференционный автоматизированный
Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1
ПрименениеДля измерений глубины рельефа поверхности отражающих объектов. Область применения - в машиностроении, приборостроении и лабораториях научно-исследовательских институтов, занимающихся вопросами оценки и измерения параметров микрорельефа поверхности.
|