ПрименениеДля измерения параметров структур высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для проведения прецизионного рентгеноструктурного анализа (методом рентгеновской дифракции) в аналитических лабораториях промышленного производства (химического, фармацевтического, нанотехнологии и др.), научно-исследовательских и учебных институтов.
Дифрактометры рентгеновские монокристальные KAPPA APEX
ПрименениеДля измерения параметров структур высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для проведения прецизионного рентгеноструктурного анализа (методом рентгеновской дифракции) в аналитических лабораториях промышленного производства (химического, фармацевтического и др.), научно-исследовательских и учебных институтов. |
Дифрактометры рентгеновские монокристаллические Smart Apex
ПрименениеДля исследований структуры монокристаллов в условиях научно-исследовательских институтов, позволяют проводить прецизионный рентгеноструктурный анализ высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами, определяют форму и структуру элементарной ячейки кристаллов с уточнением позиций атомов. Номер по Госреестру | 21687-01 | |
|
Дифрактометры рентгеновские монокристаллические P4
ПрименениеДля исследований структуры монокристаллов в условиях научно-исследовательских институтов, позволяют проводить прецизионный рентгеноструктурный анализ высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами, определяют форму и структуру элементарной ячейки кристаллов с уточнением позиций атомов. Номер по Госреестру | 21688-01 | Технические.... |
|
Дифрактометры рентгеновские MiniFlex II
ПрименениеДля измерения углового распределения интенсивности отраженного пучка рентгеновских лучей. Назначения: - определение угловой позиции максимумов (в упрощенных вариантах обработки данных - центров тяжести) дифракционных отражений (Брэгговских отражений), определение параметров кристаллической решетки, оценка качественного фазового состава с использованием баз кристаллографических данных и с использованием калибровочных зависимостей состав-параметр кристаллической решетки; определение интегральных интенсивностей Брэгговских отражений, их отношений и проведение на основе этих данных качественного и количественного фазового анализа веществ и материалов; определение интегральной ширины и полуширины Брэгговских отражений, расчет вкладов структурных.... |
Дифрактометры рентгеновские ДРОН 8
ПрименениеДля измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов в лабораториях промышленных предприятий, учебных заведений и научно-исследовательских институтов в различных отраслях науки и техники. Номер по Госреестру | 40594-09 | Технические условия на.... |
|
Дифрактометры рентгеновские ДРОН-7
ПрименениеДля измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте, для решения задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных институтов в различных отраслях науки и производства (материаловедение, черная и цветная металлургия, машиностроение, минералогия, кристаллография, химия, фармакология, криминалистика и другие). |
Дифрактометры рентгеновские ДРОН-3М
Номер по Госреестру | 9617-84 | Класс СИ | 31.01 | Год регистрации | 1992 | Страна-производитель | СССР |
| .... |